 |
 |
 |
Рентгеновская теневая микроскопия позволяет осуществлять контроль конструкции большинства типов изделий электронной техники и выявлять целый ряд технологических дефектов без разрушения корпусов или других конструктивных узлов, при этом выявляются посторонние частицы внутри корпусов, отклонения в расположении соединений внутри корпусов, распределение эвтектики по периметру кристалла, качество посадки кристалла на основание, пустоты в эвтектике под кристаллом, приводящие к ухудшению теплообмена, а зачастую способствующие разрушению кристалла. Рентгеновский контроль является неразрушающим методом контроля, после его выполнения изделия могут быть использованы в аппаратуре без ограничений.
|
№ |
Наименование |
Характеристики |
|---|---|---|
|
1 |
Микроскоп рентгеновский МТР-4 |
|
|
2 |
Микроскоп рентгеновский МТР-7 |
|
