Исследования проводятся для контроля кристаллов и оснований, дефектов корпуса, монтажа металлических покрытий и качества сборки микросхем и полупроводниковых приборов.
Исследования позволяют выявить следующие дефекты:
№ |
Наименование |
Характеристики |
---|---|---|
1 |
Оптические микроскопы МБС-10, МСП-1 |
|
2 |
Оптические микроскопы Биолам-И, МБИ-15 И |
|