#
#

Оптическая микроскопия

 

Исследования проводятся для контроля кристаллов и оснований, дефектов корпуса, монтажа металлических покрытий и качества сборки микросхем и полупроводниковых приборов.

Исследования позволяют выявить следующие дефекты:

  • Дефекты металлических покрытий;
  • Коррозия и отслаивание металлизации;
  • Дефекты разделения и ломки пластин на кристаллы;
  • Дефекты диффузии и окисла кристаллов;
  • Смещение слоёв при фотолитографии;
  • Дефекты сварных соединений;
  • Дефекты присоединения кристалла;
  • И тд;

 

Оборудование для проведения исследований

 

Наименование

Характеристики

1

Оптические микроскопы МБС-10, МСП-1

  • увеличение 10х-100х;
  • изображение стереоскопическое
  • регистрация изображений цифровая;

2

Оптические микроскопы Биолам-И, МБИ-15 И

  • увеличение 80х-2000х;
  • регистрация изображений цифровая;